產(chǎn)品詳情
AMPTEK SDD 和 FastSDD 探頭外置準(zhǔn)直器
Amptek 的 eMLC-1 外置準(zhǔn)直器可以降低從其他角度進(jìn)入到 SDD 和 FastSDD 探頭的 X 射線，改善本底，減少干擾。最合適的外置準(zhǔn)直器取決于儀器的幾何結(jié)構(gòu)；用戶可以針對自身應(yīng)用設(shè)計自己的外置準(zhǔn)直器。它對很多應(yīng)用會很有幫助。
Amptek 的 SDD 和 FastSDD 探頭都有一個內(nèi)置準(zhǔn)直器（MLC）,防止 X 射線打到探頭的邊緣，防止因邊緣部分電荷收集較弱而產(chǎn)生邊緣效應(yīng)。eMLC-1 是多層準(zhǔn)直器，封裝于黃銅中。它的核心層是鎢層，外部是幾層低能材料用來過濾特征 X 射線；最外層是鋁。
規(guī)格參數(shù)
多層準(zhǔn)直器（MLC）：底層是 100um 的鎢（W），第一層是 35um 的鉻（Cr），第二層是 15um 的鈦（Ti），最后一層是 75um 的鋁（Al）。
準(zhǔn)直器封裝：底層是 0.02”的黃銅，外面鍍一層 Ni。安裝在 0.01”Ni 的探頭外殼上。
開口面積：17mm2
機械結(jié)構(gòu)
右下圖是機械圖。注意：Be 窗和準(zhǔn)直器之間有 0.02”的間隙。
eMLC-1
Amptek SDD 和 FastSDD 探頭外置準(zhǔn)直器
應(yīng)用
下圖說明了使用外置準(zhǔn)直器的效果。這是用 Amptek 實驗室 KIT（Ag 靶光管，濾光片是 W 和 Al）測試的高密度聚乙烯樣品譜圖，理論上譜圖中不應(yīng)該有金屬。黑色譜圖是探頭前沒加外置準(zhǔn)直器測試譜圖，可以很明顯的看到 Fe，Ni，Cu 峰（Ni 是來自探頭的外殼或結(jié)構(gòu)中的其他材料）。橙色譜圖是使用外置準(zhǔn)直器 eMLC-1 測試譜圖?？梢钥吹?Ni 強度降低了 70%，其他峰完全被消除。由于角度的減少，所以總計數(shù)降低了 20%。
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